关于AEMD平台免费提供红外热分析显微镜测试的通知

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2019-03-18

关于AEMD平台免费提供红外热分析显微镜测试的通知

尊敬的各位用户老师、同学: 2019年03月19日（星期二）10:00-16:00在微电子大楼103室，AEMD平台免费提供设备“Sentris半导体器件缺陷定位热发射显微镜”的测试，欢迎全校相关学科的老师及同学参加！（可带测试样品前来咨询和测试。） 时间：2019年03月19日(星期二) 10:00-16:00 地点：微电子大楼103室 设备名称：Sentris半导体器件缺陷定位热发射显微镜 设备功能：此款红外热分析显微镜，具备最高5μm的XY方向分辨率，以及0.001℃的温度分辨率，该系统结合LOCK IN技术，能找到低于100uw功耗的缺陷；可以精确检测IC、MEMS、FPC、GaN器件等器件的表面热分布，用于器件材料及衬底的热性能、热应力研究等；同时可以用于快速分析和定位PCBA、PCB、IC、各种元器件等的短路、漏电等缺陷位置。

先进电子材料与器件校级平台

二零一九年三月十八日

附件《.2-OPTOTHERM-Sentris-中文》

以下是部分案例，供参考:

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