等离子辅助原子层沉积系统(金属)运行
Plasma Enhanced Atomic Layer Deposition
型号: FIJI F200
功能: 用于沉积超薄、均匀性好、高保形性的金属薄膜(如Cu、TiN,Ru等),适用于TSV等深沟槽器件
工程师: 乌老师 / (021) 34206126-6028
设备地点: 东区薄膜Ⅳ区
设备编号: EFM4ALD01
  • 设备基本信息
  • 设备工作原理
  • 典型使用案例
主要用途

具有热法和等离子增强法两种沉积模式,主要用于沉积超薄、均匀性好、高保形性的金属薄膜(如Cu、TiN,Ru等)。

可采用ICP电感耦合等离子辅助技术,在低功率(不损坏衬底)下制备高质量金属薄膜,适用于TSV通孔及深沟槽器件的镀膜。

同时,本设备也可以沉积氧化物、氮化物介质薄膜(但这台设备因为考虑到交叉污染等原因主要用于沉积金属)。

 

工艺/测试能力
  • 1.可沉积TiN、TaN、Cu、Ru金属薄膜
  • 2.可沉积Al2O3,AlN介质薄膜
  • 3.支持8寸及以下的整片和碎片
  • 4.八寸基底沉积的薄膜均匀性偏差<3%
  • 5.ICP功率最大可达300W
  • 6.加热温度最大可达500度

 

技术指标
  • 1. 支持8寸及以下的整片和碎片
  • 2.八寸基底沉积的薄膜均匀性<3%
  • 3. 可实现保形性沉积(深宽比>20:1,在特殊工艺下深宽比可更大)

原子层沉积是一种特殊的化学气相沉积技术,通过将气相前驱体交替地通入反应室,并在基底表面发生化学吸附和反应,形成原子级别的薄膜。

原子层沉积技术具有以下关键特性: ‌

1. 自限制生长:每次反应只发生在单层原子上,确保薄膜的厚度和组成可控。

2. ‌优异的三维保型性:能够在复杂形状的基底上均匀沉积薄膜。 ‌

3. 大面积均匀性:能够在较大的基底面积上实现均匀的薄膜沉积。 ‌

4. 低温生长:适用于在低温下进行薄膜沉积,适用于某些敏感材料的处理。 

硅片上用等离子增强原子层沉积工艺制备得到的厚度为40nm的TiN薄膜,其电阻率约80µὩcm,厚度均匀性偏差<3%

 

禁止粉末样品,样品表面干净,不可带胶沉积

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常见问题及解答
  • 01
    是否可以沉积别的材料

    量大可考虑,且需要自己购置源瓶和源材料

  • 02
    设备是否也可以沉积介质

    如对漏电要求低,本设备也可以沉积氧化铝、氮化铝

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