电感耦合等离子体化学气相沉积设备运行
ICP-CVD
型号: PlasmaPro 100 ICPCVD180
功能: 样品尺寸不大于6英寸,低温沉积二氧化硅,氮化硅薄膜
工程师: 付老师 / (021) 34206126-6010
设备地点: 西区薄膜II区
设备编号: WF2PCVD01
  • 设备基本信息
  • 设备工作原理
  • 典型使用案例
主要用途

低温沉积二氧化硅,氮化硅薄膜,满足剥离工艺的需求。高温沉积高质量的氮化硅,氧化硅,氮氧化硅以及非晶硅薄膜

 

工艺/测试能力

满足沉积10微米以下的二氧化硅薄膜的需求,满足沉积5微米以下的氮化硅薄膜的需求。可以制备10Mpa以下的超低应力介质薄膜。

 

技术指标
  • 1.样品尺寸不大于6英寸。
  • 2.二氧化硅沉积速率20nm/min-100nm/min可调。
  • 3.氮化硅沉积速率5nm/min-20nm/min可调。
  • 4.二氧化硅折射率1.45-1.49可调。
  • 5.氮化硅折射率1.85-2.10可调。)

高纯氮气或笑气单独自上进入反应腔,被交变电场激励。硅烷在样品表面附近进入腔内,与氮离子反应,生成氮化硅薄膜。背冷氦气由基板上的气孔通入,对基板上的衬底进行散热和温控。衬底被石英压环紧压,防止氦气漏入腔体,对工艺有影响。由于等离子体远离衬底,沉积的薄膜表面损伤会大大减少。这种间接ICP-PECVD的构造虽然等离子密度很高,但基板上的离子能量很低,生成的氮化硅薄膜表面钝化质量高,热稳定性好。

 

低温制备二氧化硅超厚膜。

 

 

沉积温度65℃制备厚度15.4微米,超厚二氧化硅薄膜,薄膜无开裂,无形变,无孔洞,有晶向。 

样品尺寸不大于6英寸,低温沉积二氧化硅,氮化硅薄膜

涉及特气,电离辐射,注意操作规范。

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