TSV电镀铜运行
Electroplating System TSV Cu
型号: µGALV
功能: 电镀填充硅盲孔、硅通孔、玻璃盲孔、玻璃通孔等高深宽比结构。
工程师: 田老师 / (021) 34206126-6031
设备地点: 东区电镀区
设备编号: EPL0TSV01
  • 设备基本信息
  • 设备工作原理
  • 典型使用案例
主要用途

电镀填充硅盲孔、硅通孔、玻璃盲孔、玻璃通孔等高深宽比结构。只可沉积金属铜。不同深宽比和孔径的填充效果不同。

 

工艺/测试能力

3、4、6寸标准尺寸晶圆。 晶圆厚度:350um-1000um。 150mm尺寸以下异形样品(含破片)。最小可填充盲孔为直径10um,孔深100um。

 

技术指标

3、4、6寸标准尺寸晶圆。 晶圆厚度:350um-1000um。电流可控精度1mA。电镀时长可超过100小时。可以台阶电流,可以脉冲电流。

利用电化学方法在基体表面沉积铜层的工艺。其电镀液有硫酸铜、导电盐、pH调节剂等组成。电镀过程中将基体作为阴极,通电后,铜离子在阴极表面还原析出,形成铜镀层。

深宽比为10:1的深孔的填充效果。

3、4、6寸标准尺寸晶圆。 晶圆厚度:350um-1000um。请务必提前联系工程师。由于不同孔型填充效果各异,请准备测试样品。

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常见问题及解答
  • 01
    种子层多厚?

    至少200nm,保证孔内连续。

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