2025-10-30

尊敬的各位用户老师、同学:

为了满足学校广大师生的科研需求,AEMD平台新购置的中电流离子注入机(设备编号:EEI0MCI01)已完成安装调试,即日起开放运行。各位用户老师、同学可在AEMD预约系统里预约使用,特此公告。

 

中电流离子注入机介绍:

主要用途:

用于对半导体材料进行掺杂,改变其电学特性,如调整阈值电压、形成浅结 / 电阻、制备 CMOS 阱等。

工艺/测试能力:

提供B, BF2, P, As,Ar元素的注入,分解能>50;能量3--960keV,误差<1%;支持剂量1E11~1E16 atoms/cm2,Dose 误差<1%,;Tilt角度0-60°,角度误差<0.2°;电流范围:2μA~4000μA;片内,片间均匀性≤0.5%;

 

设备工作原理简介:

离子注入机是半导体制造过程中关键的精密设备,主要用于将特定元素的离子注入到半导体晶圆(如硅片)中,从而改变晶圆局部区域的电学特性(如掺杂浓度、导电类型等)。其工作原理可概括为离子产生→离子引出与加速→质量分析与筛选→离子束传输与扫描→离子注入到晶圆五个核心环节。

一、离子产生(离子源) 原理:通过电离过程将需要注入的元素(如硼 B、磷 P、砷 As、氩 Ar 等)转化为离子态。 方法: 热电离:加热固态使其蒸发,再通过电子轰击电离。 气体电离:对气态物质(如 BF3、PH3)进行电子轰击,使气体分子电离为离子(如 BF₂⁺P)。

 

二、离子引出与加速(加速电场) 原理:利用电场加速将离子源产生的离子引出,并赋予其一定的动能。

三、质量分析与筛选(磁分析器) 原理:利用磁场偏转原理筛选出目标离子(如排除杂质离子或同元素的不同同位素)。

四、离子束传输与扫描(束流控制) 原理:通过电磁透镜和扫描系统控制离子束的形状、方向和位置,使其均匀覆盖整个晶圆表面。

五、离子注入到晶圆(靶室与晶圆台) 原理:经过筛选和扫描的离子束最终轰击到晶圆表面,离子通过动能沉积进入晶圆内部,形成掺杂层。

离子注入机通过 “离子产生→加速→质量筛选→扫描→注入” 的全流程控制,实现了对半导体晶圆的精准掺杂,是集成电路制造中不可替代的关键设备。其技术难点在于高能量精度、高束流纯度、高均匀性扫描以及复杂的真空和控制系统集成。

 

典型使用案例:

硼(B)受主杂质(P 型):

  1. CMOS 逻辑芯片核心掺杂 PMOS 源漏极(P + 区):低能量离子注入(如 5~20 keV)形成浅结(<10nm),用于 7nm 以下先进制程,抑制短沟道效应。
  2. P 阱形成:高能注入(100~500 keV)在硅衬底中创建深 P 阱(结深 1~3μm),隔离 NMOS 器件,掺杂剂量约 1e13~1e14 ions/cm²。
  3. 存储芯片阈值电压调控 NAND Flash 浮栅单元:通过硼注入调整存储单元的阈值电压分布。
  4. DRAM 沟道掺杂:轻掺杂硼(剂量~1e12 ions/cm²)调节 MOSFET 阈值电压,降低待机漏电流。

磷(P)施主杂质(N 型):

  1. NMOS 源漏极(N + 区):中能量注入(20~50 keV)形成导电沟道,掺杂浓度可达 1e20 cm³,需快速热退火激活。
  2. 功率 MOSFET 源极:高能注入(>100 keV)在 Si 或 SiC 衬底中形成低阻 N + 源极,降低导通电阻。
  3. DRAM 埋层字线(WL):磷扩散形成 N 型埋层,提升字线导电性,适用于大容量存储芯片(如 14nm DDR5)。
  4. 双极型晶体管(BJT)发射极:磷扩散形成 N + 发射极,与基区(硼掺杂)构成 PN 结,用于射频放大或功率开关器件。

砷(As)施主杂质(N 型):

  1. 先进制程 NMOS 源漏扩展(SDE):低能量注入(<10 keV)形成超浅结(结深 < 5nm),用于 3nm 以下 FinFET/GAA 器件,抑制源漏穿通。
  2. 高速逻辑芯片埋层掺杂:在硅衬底中注入砷形成深埋 N 型层(如 SOI 衬底的埋氧层下方),用于射频器件的隔离或导电层。
  3. InGaAs 器件源漏极:在 InGaAs 衬底中注入砷形成 N + 接触,利用其与 III-V 族材料的晶格匹配性,降低接触电阻(如 5G 毫米波芯片)。

氟(F)界面调控:

  1. FinFET/GAA 栅极工程:在金属栅极下方注入氟离子(能量~1 keV,剂量~1e14 ions/cm²),中和界面陷阱电荷,优化阈值电压均匀性(如 Intel 10nm 工艺)。
  2. 此外可使用BF2 注入实现B超浅结注入。

 

设备名称:中电流离子注入机

设备编号:EEI0MCI01

工艺工程师:李老师;邮箱:[email protected] 电话:(021) 34206126-6012

设备地点:东区外延/离子注入区

 

设备详细介绍查看路径:AEMD官网-平台设备-微纳加工

AEMD官网网址:https://aemd.sjtu.edu.cn/

AEMD实验室设备预约管理系统访问网址:https://aemd-lims.sjtu.edu.cn/

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设备照片:

 

先进电子材料与器件(AEMD)平台

2025年10月30日

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