薄膜生长与沉积
工艺类别 技术方法 典型材料/膜层 特点与应用
化学气相沉积 (CVD) LPCVD、PECVD、ICP-CVD 介质(SiO₂)、非晶/多晶硅 薄膜质量高、性能可控;适用于超厚介质层,低温沉积(如PECVD)。
物理气相沉积 (PVD) 溅射、电子束蒸发、热蒸发、IBD 金属(Al/Cu)、氧化物(Ta₂O₅) 高深宽比结构(TSV/TGV)种子层;功能性薄膜(如V₂O₅)。
原子层沉积 (ALD) 热ALD、等离子体ALD 高k介质(HfO₂)、铁电薄膜 原子级厚度控制,台阶覆盖性极佳,适合纳米级器件。
压电薄膜沉积 多腔室系统(Mo/AlN/AlScN/修平) AlScN多层压电叠层 高性能压电器件(如MEMS传感器),支持多材料同步沉积。
有机分子沉积 表面修饰、Parylene沉积 超疏水/亲水涂层、封装薄膜 生物兼容性高,用于功能化表面或器件保护(如柔性电子)。
氧化生长 干氧/湿氧热氧化 SiO₂氧化层 半导体绝缘层,高温工艺(需硅衬底)。
低温碳材料生长 CVD/PECVD 石墨烯、碳纳米管 低温(<500°C)生长,兼容柔性衬底,用于传感器或导电材料。
分子束外延 (MBE) 固态源/气态源MBE SiGe、III-V族(GaAs/InP) 超高真空环境,原子级外延控制;用于高速电子、光电器件(如激光器)。

 

 

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