• 型号:Dimension Icon

    状态:运行

    功能:准确观测样品表面微区(纳米及亚微米尺度)三维形貌;同时可以对样品表面的电场/磁场分布、表面电势等进行扫描。

    东区测试III区、西区测试I区34207734-8010
  • 型号:LSM800

    状态:运行

    功能:材料、器件的微纳结构及表面形貌观察

    东区测试III区34207734-8010
  • 型号:Zeta-20

    状态:运行

    功能:收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。

    东区薄膜Ⅲ区、西区薄膜II区34207734-8010
  • 型号:STM7

    状态:运行

    功能:主要用于微纳加工样品的结构观察及测量

    西区薄膜IA区34207734-8010
  • 型号:Scope.A1、Lab.A1、Axio Scope A1

    状态:运行

    功能:基片表面光学观察

    西区光刻I区、西区薄膜IA区、东区光刻ⅢB区34207734-8010
  • 型号:P7

    状态:运行

    功能:1. 在探针允许范围内台阶与沟道深度测量;
    2. 各类沉积薄膜厚度测量;
    3. 表面粗糙度测量。

    东区薄膜Ⅳ区、西区薄膜IA区34207734-8003
×